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粤芯半导体申请深沟槽电容器和硅通孔的制造方法专利解决深沟槽中光刻胶残留问题!

发布于 2025-12-03 17:38 阅读(

  

粤芯半导体申请深沟槽电容器和硅通孔的制造方法专利解决深沟槽中光刻胶残留问题

  国家知识产权局信息显示,粤芯半导体技术股份有限公司申请一项名为“一种深沟槽电容器和硅通孔的制造方法”的专利,公开号CN121054482A,申请日期为2025年11月。专利摘要显示,本申请提供了一种深沟槽电容器和硅通孔的制造方法,所述方法包括:根据第一光刻胶层上定义出的硅通孔的图案,对待处理晶圆表面的硬掩模层进行初步刻蚀,得到硅通孔的初步浅槽;去除第一光刻胶层,保留硬掩模层;在硬掩模层的表面依次沉积抗反射层和第二光刻胶层,并在第二光刻胶层上定义出深沟槽电容器的图案;对抗反射层以及硬掩模层进行刻蚀,在硬掩模层上形成的第二开口构成深沟槽电容器对应的第二图案;去除抗反射层和第二光刻胶层,并根据硬掩模层上形成的第一图案和第二图案,对待处理晶圆进行自对准全面刻蚀,形成深沟槽电容器的沟槽结构和硅通孔的通孔结构,本申请能够解决深沟槽中光刻胶残留的问题,提升工艺稳定性。

  天眼查资料显示,粤芯半导体技术股份有限公司,成立于2017年,位于广州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本236559.1397万人民币。通过天眼查大数据分析,粤芯半导体技术股份有限公司共对外投资了3家企业,参与招投标项目132次,财产线条,此外企业还拥有行政许可128个。

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